固體表面電位儀DelsaNanoC/SS是目前惟一的應(yīng)用電泳光散射及動(dòng)態(tài)光散射原理，同時(shí)提供顆粒Zeta電位分布、固體及薄膜液-固表面Zeta電位分布和納米粒度分布的分析儀。DelsaNnaoC/SS通過特別設(shè)計(jì)的固體平板樣品池，有效地為固體材料、纖維材料、薄膜材料等提供ZETA電位分析。為廣大的新材料研究、生產(chǎn)提供的、多用途的分析工具。

　　

　　使用動(dòng)態(tài)（流動(dòng)氣體）分析技術(shù)，可完成化學(xué)吸附（分散度、活性金屬面積、晶粒尺寸、表面酸性和脈沖化學(xué)吸附）和物理吸附（單點(diǎn)BET表面積，Langmuir表面積，總

　　

　　多功能自動(dòng)化程序升溫化學(xué)吸附儀

　　

　　多功能自動(dòng)化程序升溫化學(xué)吸附儀[2]圖冊

　　

　　孔體積）。具有更高的精度、測量速度快、可適用多種實(shí)驗(yàn)等優(yōu)勢。

　　

　　固體表面電位儀針對各種形狀的固體

　　

　　各種不同的測量池適用于天然的和人造的纖維和織物、顆粒樣品、粗顆粒和平板樣品。

　　

　　突破極限-流動(dòng)奧妙

　　

　　快速測量：

　　

　　Zeta電位測量少于2分鐘

　　

　　表面Zeta電位直接分析：

　　

　　適用于實(shí)際樣品，無需使用示蹤顆粒